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云冈石窟顶部土壤层的X射线光谱分析
摘要:对于云冈石窟文物保护工作的开展而言,探测其顶部土壤层的结构和组成是极其必要的。首先在云冈石窟顶部选取四处代表性区域,对不同位置、不同深度的土壤样品进行取样,接着利用X射线衍射仪对所有土壤样品进行检测并使用MDI jade软件做物相检索衍射图谱的分析。结果显示,云冈石窟顶部土壤层主要成分为SiO2,CaCO3,CaO和KNO3。主要变化趋势为:随着深度的增加,含量较多的SiO2和含量较少的TiO2和KNO3波动均不大、而CaCO3则在深度到达288 cm附近逐渐消失,在地表深层以CaO的形态存在。横向(水平方向)分析土壤成分可知,在地表浅层土壤中北面SiO2的含量明显高于南面,但到了较深的位置便趋于相同、西南方向浅层土壤中CaCO3的含量高于其它位置,而深部CaO的含量无明显变化规律等。这些结果可为云冈石窟的修复保护提供有益的数据参考。
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期刊名: 云冈研究
年: 2024
卷: 4
期: 02
页码: 91-96